半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

   
該(gai)系列儀器(qi)的(de)技(ji)術(shu)指標均滿足(zu)國家計量總局(ju)頒布的(de)JJG547-88檢定規程的(de)要求，整機功(gong)(gong)能(neng)(neng)采(cai)用美國微電腦控制處(chu)理技(ji)術(shu)及(ji)上SMT芯片貼片封裝(zhuang)技(ji)術(shu)和半導(dao)體(ti)激(ji)光傳感器(qi)技(ji)術(shu)及(ji)防噪(zao)聲氣(qi)泵，可直(zhi)接打印檢測結果。具有功(gong)(gong)能(neng)(neng)多、測量精度(du)高、速度(du)快、便(bian)于攜(xie)帶和操作簡單等特點。儀器(qi)一次采(cai)樣可同(tong)時(shi)測得多種粒(li)徑的(de)塵(chen)埃粒(li)子數(shu)，并能(neng)(neng)選擇觀察其(qi)中某(mou)一粒(li)徑粒(li)子的(de)數(shu)目及(ji)其(qi)變化情(qing)況，對于研(yan)究、檢測和評價各種潔凈環(huan)境都十分方便(bian)。該(gai)系列儀器(qi)性能(neng)(neng)設計、質量穩定可靠

半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

   
　　該系列產品已被廣泛應用于潔凈室檢測；過濾器現場檢測、撿漏；可監測凈工作臺、生物安全柜，HVAC系統，計算機室、飲料包裝環境，醫療器械生產環境，醫院潔凈手術室，汽車噴涂環境微電子、制藥、生化制品、食品衛生、精細化工、精密機械和航空航天等生產和科研部門，是制藥企業及其監督管理部門貫徹GMP規范及電子生產企業的儀器。 半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

主要技術參數及性(xing)能(neng)：

半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D

1.光源: 全半導體 激光光源 
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min) 
3.檢測范圍: 100級～100萬級  
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L 
5.粒徑通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六檔 
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。 
7.采樣周期: 1～10 (min) 
8.自凈時間: ≤15 (min) 
9.校準：可追溯美國國家標準技術協會（NIST）
10.工作環境: 溫度:10～35℃    相對溫度: 20～75%RH 
11.Z大功耗: 25W 
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購） 
（1）         溫度：0～50℃±1℃ 
（2）         濕度：0～100%RH±5% 
13.采樣點數   2～7點設定 
14.每點采樣次數   2～9次設定 
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準 
16.工作時間：8 小時 
17.電源： AC220V±10%    50±2Hz 
18.重量:4.8kg 
19.外形尺寸: 260×130×340 
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。 
21.備(bei)注: 內(nei)置打印機、自動(dong)判斷凈化等(deng)級、等(deng)動(dong)力采(cai)樣頭、采(cai)樣架

半導體激光塵埃粒子計數器  型號：CLJ-D