半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

北京 創業 專業鑄造品質
該系列儀器的技術指標均滿足 計量總局頒布的JJG547-88檢定規程的要求，整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上 的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒(li)子數，并能選擇觀察其中某(mou)一粒(li)徑(jing)粒(li)子的數目(mu)及其變化情況，對于研究、檢(jian)測和評(ping)價(jia)各種潔(jie)凈環境都十(shi)分方便。該系列儀(yi)器性(xing)能設計、質(zhi)量穩定(ding)可靠(kao)

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

北京 創業 專業鑄造品質
　　該系(xi)列產品(pin)已被廣泛應(ying)用于潔(jie)凈室(shi)(shi)檢測(ce)；過濾器現場(chang)檢測(ce)、撿漏(lou)；可監測(ce)凈工作(zuo)臺、生物 柜(ju)，HVAC系(xi)統(tong)，計算(suan)機室(shi)(shi)、飲料包裝環境(jing)，醫(yi)療器械 環境(jing)，醫(yi)院潔(jie)凈手(shou)術室(shi)(shi)，汽車噴(pen)涂(tu)環境(jing)微電子、制藥、生化制品(pin)、食品(pin)衛(wei)生、精細化工、精密機械和航空航天等 和科(ke)研部(bu)門(men)(men)，是制藥企業(ye)及(ji)其監督管理部(bu)門(men)(men)貫徹GMP規范(fan)及(ji)電子 企業(ye)的儀器。 北(bei)京 創業(ye) 專業(ye)鑄造品(pin)質

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

主要技術參(can)數及性(xing)能：

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

質
1.光源: 全半導體 激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準：可追溯美國 標準技術協會（NIST），我公司已通過 計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方 計量機構進行校準
10.工作環境: 溫度:10～35℃ 相對溫度: 20～75%RH
11.zui大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1） 溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數 2～7點設定
14.每點采樣次數 2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源： AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注: 內置打印機(ji)、自動(dong)判(pan)斷凈(jing)化等(deng)(deng)級、等(deng)(deng)動(dong)力采樣頭(tou)、采樣架

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D