SX1934D型二合一數字式四探針測試計 
 產品說明 
SX1934D型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業的篩選。 
產品特點 
 　　儀器(qi)由(you)(you)主(zhu)機、測試探頭（可(ke)選(xuan)配測試臺(tai)）等(deng)部(bu)分(fen)組(zu)成(cheng)，測試結果由(you)(you)數(shu)字表頭直接(jie)顯示(shi)。主(zhu)機主(zhu)要由(you)(you)數(shu)控(kong)恒流源，高(gao)(gao)分(fen)辨(bian)率ADC、嵌入式(shi)單片機系統組(zu)成(cheng)，自(zi)動(dong)轉換量程。測試探頭高(gao)(gao)分(fen)子(zi)材料和高(gao)(gao)耐磨碳化(hua)鎢探針制(zhi)成(cheng)，故(gu)定(ding)位準確、游(you)移率小、壽命長。儀器(qi)具有(you)測量精度(du)高(gao)(gao)、靈敏度(du)高(gao)(gao)、穩(wen)定(ding)性好、智(zhi)能化(hua)程度(du)高(gao)(gao)、測量簡便、結構緊湊、使用(yong)方便等(deng)特點(自(zi)動(dong)調零)。可(ke)鑒別半導(dao)體PN類別。